Приклад практичного застосування методу симетрії для аналізу мікроструктур промислових сплавів

На рисунку 2.5 наведені металографічна та растрова електронномікроскопічні фотографії мікроструктури силуміну з вмістом кремнію 16 % мас.

а	б

в	г
а – світлова мікроскопія × 500, б – растрове електронномікроскопічне зображення × 1500, в, г – лабораторні тривимірні моделі до поз. а, б - відповідно
Рисунок 2.5 - Мікроструктура заевтектичного Al-16(мас.) % Si сплаву

Спираючись на одержані при вивчені наявної дисципліни знання, із аналізу мікроструктур рисунку 2.5 можна одержати майже вичерпну інформацію щодо кристалогеометричних характеристик первинних кристалів сплаву. У даному прикладі це первинні кристали кремнієвої фази заевтектичного силуміну:

1. Кристалографічна форма (габітус): тетрагональна діпіраміда.

2. Сингонія: тетрагональна.

3. Метрика: a = b ≠ c; α = β = γ = 90°.

4. Категорія симетрії: середня.

5. Координаційний поліедр: октаедр.

6. Координаційне число: 6.

7. Формула симетрії: L₄4L₂5PC.

8. Клас (вид) симетрії: планаксіальний.

Для отримання остаточної детальної інформації про міжплощинні відстані, параметри кристалічної гратки необхідні додаткові лабораторні дослідження із застосуванням рентгеноструктурного та / або електронномікроскопічного аналізів.

<== попередня сторінка	\|	наступна сторінка ==>
Координація, координаційні число, сфера, поліедр	\|	Типи зв’язків у кристалах

Не знайшли потрібну інформацію? Скористайтесь пошуком google:

Генерація сторінки за: 0.004 сек.