Умови дифракції Лауе. Пряма та зворотна гратки

Поняття про зворотну гратку може бути матеріалізовано через хвилевий аналіз гратки кристалу. Для прозорих кристалів – це світлова оптика. Для непрозорих (у т.ч. металічних матеріалів) – це електронномікроскопічний і рентгеноструктурний аналізи.

Дифракція (заломлення з відхиленням хвилі на певний кут) відбувається у тому випадку, коли виконуються умови Лауе:

a (cos α₁ - cos α₂) = n₁λ; b (cos β₁ - cos β₂) = n₂λ; c (cos γ₁ - cos γ₂) = n₃λ.

α₁; β₁; γ₁ – кути між відповідними напрямами та хвилею падіння;

α₂; β₂; γ₂– кути відповідних заломлень;

n₁; n₂; n₃ – порядки заломлення (порядки дифракції);

Косинуси кутів визначають напрями падаючого та дифрагованого пучку променів.

На рис. 1.15 представлені залежності міжплощинної відстані «d» в ортогональній системі координат рис. 1.15 а (рис. 1.15 б – в косокутній).

Рисунок 1.13 – Стереографічна проекція (а) та зв’язок стереопроекції з площинами та напрямками (б)

<== попередня сторінка	\|	наступна сторінка ==>
	\|	Гратка (решітка), кожен вузол якої відповідає можливому відображенню рентгенівських і електронних хвиль від площин кристалу, називається зворотною.

Не знайшли потрібну інформацію? Скористайтесь пошуком google:

Генерація сторінки за: 0.001 сек.