Гратка (решітка), кожен вузол якої відповідає можливому відображенню рентгенівських і електронних хвиль від площин кристалу, називається зворотною.

Рисунок 1.14 – Схема формування електронномікроскопічного зображення

В результаті дослідження міжплощинна відстань «d» прямої гратки, як об’єкт аналізу (рис. 1.14), завжди в лабораторній системі має вигляд d* = 1 / d. Тобто при реєстрації вона представлена в якості міжплощинної відстані зворотної гратки (рис. 1.14, рис. 1.15). Порядок розрахунку міжплощинної відстані «d_hkl» прямої гратки через геометричні параметри (L, Ri) та довжину хвилі випромінювання λ експериментальної зйомки наведені на рис. 1.14.

Таким чином, зворотно пропорційний зв’язок d* та d свідчить про те, що завжди найбільші значення «d*» в дослідній (лабораторній, видимій на екрані або на запису самописця – рис. 1.15) системі зворотної гратки продукуватимуться найменшими «d» прямої (початкової, істинної) гратки.

<== попередня сторінка	\|	наступна сторінка ==>
Умови дифракції Лауе. Пряма та зворотна гратки	\|

Не знайшли потрібну інформацію? Скористайтесь пошуком google:

Генерація сторінки за: 0.18 сек.