Приклад практичного застосування методу симетрії для аналізу мікроструктур промислових сплавів
На рисунку 2.5 наведені металографічна та растрова електронномікроскопічні фотографії мікроструктури силуміну з вмістом кремнію 16 % мас.
а
б
в
г
а – світлова мікроскопія × 500, б – растрове електронномікроскопічне зображення × 1500, в, г – лабораторні тривимірні моделі до поз. а, б - відповідно
Рисунок 2.5 - Мікроструктура заевтектичного Al-16(мас.) % Si сплаву
Спираючись на одержані при вивчені наявної дисципліни знання, із аналізу мікроструктур рисунку 2.5 можна одержати майже вичерпну інформацію щодо кристалогеометричних характеристик первинних кристалів сплаву. У даному прикладі це первинні кристали кремнієвої фази заевтектичного силуміну:
1. Кристалографічна форма (габітус): тетрагональна діпіраміда.
2. Сингонія: тетрагональна.
3. Метрика: a = b ≠ c; α = β = γ = 90°.
4. Категорія симетрії: середня.
5. Координаційний поліедр: октаедр.
6. Координаційне число: 6.
7. Формула симетрії: L44L25PC.
8. Клас (вид) симетрії: планаксіальний.
Для отримання остаточної детальної інформації про міжплощинні відстані, параметри кристалічної гратки необхідні додаткові лабораторні дослідження із застосуванням рентгеноструктурного та / або електронномікроскопічного аналізів.