1. Для визначеного значення періоду кристалічної ґратки дослідити залежність хп(υ) для фіксованого значення п. Для цього на інтерфейсі встановити відповідне значення періоду кристалічної ґратки і, змінюючи значення швидкості електронів, провести виміри положення першого дифракційного максимуму. Дані занести в таблицю.
2. Користуючись отриманими даними, побудувати графік залежності хп(υ) в координатах хп(1/υ). Тоді ця залежність матиме вигляд:
. (84.9)
3. Із графіка знайти коефіцієнт нахилу залежності хп(1/υ):
. (84.10)
4. Користуючись отриманим експериментально значенням k та формулою (84.9), визначити масу електронів за допомогою формули:
. (84.11)
5. Знайти похибки і порівняти отримане значення маси електрона із табличним.
Контрольні запитання:
1. Які види випромінювання використовуються для дослідження кристалічної структури?
2. Сформулюйте закон Брегга.
3. В чому суть методу Лауе?
4. Охарактеризуйте метод обертання кристалу.
5. Опишіть суть методу порошку.
6. Коли для структурних досліджень методом дифракції застосовують електрони, а коли нейтрони?