• Гідрологія і Гідрометрія
• Господарське право
• Економіка будівництва
• Економіка природокористування
• Економічна теорія
• Земельне право
• Історія України
• Кримінально виконавче право
• Медична радіологія
• Методи аналізу
• Міжнародне приватне право
• Міжнародний маркетинг
• Основи екології
• Предмет Політологія
• Соціальне страхування
• Технічні засоби організації дорожнього руху
• Товарознавство продовольчих товарів

Тлумачний словник
Авто
Автоматизація
Архітектура
Астрономія
Аудит
Біологія
Будівництво
Бухгалтерія
Винахідництво
Виробництво
Військова справа
Генетика
Географія
Геологія
Господарство
Держава
Дім
Екологія
Економетрика
Економіка
Електроніка
Журналістика та ЗМІ
Зв'язок
Іноземні мови
Інформатика
Історія
Комп'ютери
Креслення
Кулінарія
Культура
Лексикологія
Література
Логіка
Маркетинг
Математика
Машинобудування
Медицина
Менеджмент
Метали і Зварювання
Механіка
Мистецтво
Музика
Населення
Освіта
Охорона безпеки життя
Охорона Праці
Педагогіка
Політика
Право
Програмування
Промисловість
Психологія
Радіо
Регилия
Соціологія
Спорт
Стандартизація
Технології
Торгівля
Туризм
Фізика
Фізіологія
Філософія
Фінанси
Хімія
Юриспунденкция

Завдання 3. Визначення маси електрона

1. Для визначеного значення періоду кристалічної ґратки дослідити залежність х_п(υ) для фіксованого значення п. Для цього на інтерфейсі встановити відповідне значення періоду кристалічної ґратки і, змінюючи значення швидкості електронів, провести виміри положення першого дифракційного максимуму. Дані занести в таблицю.

2. Користуючись отриманими даними, побудувати графік залежності х_п(υ) в координатах х_п(1/υ). Тоді ця залежність матиме вигляд:

. (84.9)

3. Із графіка знайти коефіцієнт нахилу залежності х_п(1/υ):

. (84.10)

4. Користуючись отриманим експериментально значенням k та формулою (84.9), визначити масу електронів за допомогою формули:

. (84.11)

5. Знайти похибки і порівняти отримане значення маси електрона із табличним.

Контрольні запитання:

1. Які види випромінювання використовуються для дослідження кристалічної структури?

2. Сформулюйте закон Брегга.

3. В чому суть методу Лауе?

4. Охарактеризуйте метод обертання кристалу.

5. Опишіть суть методу порошку.

6. Коли для структурних досліджень методом дифракції застосовують електрони, а коли нейтрони?

Читайте також:

1. CMM. Визначення моделі зрілості.
2. I визначення впливу окремих факторів
3. I. Постановка завдання статистичного дослідження
4. II. Визначення мети запровадження конкретної ВЕЗ з ураху­ванням її виду.
5. II. Завдання на проект.
6. II. Мотивація навчальної діяльності. Визначення теми і мети уроку
7. Ocнoвнi визначення здоров'я
8. S Визначення оптимального темпу роботи з урахуванням динаміки наростання втоми.
9. V. ДОМАШНЄ ЗАВДАННЯ
10. V. ДОМАШНЄ ЗАВДАННЯ
11. V. Завдання.
12. VI. ДОМАШНЄ ЗАВДАННЯ

Переглядів: 663